2026.02.27 7-11. 故障解析（Failure Analysis） 半導体において、壊れたという事実は終わりではない。 そこからが本当の技術の始まり。 なぜ壊れたのか。どこで壊れたのか。いつ壊れたのか。 これを科学的に... 続きを読む 半導体 検査・評価技術 半導体検査 半導体評価技術 半導体信頼性評価 半導体故障解析 半導体品質管理
2026.02.26 7-10. バーンイン・寿命試験（Burn-in & Lifetime Testing） 半導体は、作った瞬間が完成ではない。 壊れるかどうかは時間で決まる。 出荷直後に壊れるのか、10年後に壊れるのか。 この時間軸の信頼性を評価するのが、バー... 続きを読む 半導体 検査・評価技術 半導体検査 半導体評価技術 半導体信頼性評価 半導体故障解析 半導体品質管理
2026.02.25 7-9. 熱・電気連成評価（Electro-Thermal Coupling） 半導体は、電気で動き、熱で壊れる。 そして厄介なのは電気と熱は独立していない。 電流が流れれば発熱し、温度が上がれば電気特性が変わる。 この相互影響を評価... 続きを読む 半導体 検査・評価技術 半導体検査 半導体評価技術 半導体信頼性評価 半導体故障解析 半導体品質管理
2026.02.24 7-8. 信号・電源ノイズ解析（SI / PI） 半導体は、動くだけでは足りない。 「正しく」「安定して」「高速で」動く必要がある。 そこで重要になるのが SI（Signal Integrity） PI... 続きを読む 半導体 検査・評価技術 半導体検査 半導体評価技術 半導体信頼性評価 半導体故障解析 半導体品質管理
2026.02.20 7-7. 電気特性評価（DC / RF / 高速信号） 半導体は、見た目が正常でも電気的に壊れていれば不良。 だから検査の本丸は、最終的に必ずここへ到達する。 電気特性評価（Electrical Characte... 続きを読む 半導体 検査・評価技術 半導体検査 半導体評価技術 半導体信頼性評価 半導体故障解析 半導体品質管理
2026.02.19 7-6. 故障解析（Failure Analysis / FA） 不良が出たとき、最も危険なのは 「原因が分からないまま量産を続けること」 半導体は、 • 微細 • 多層 • 多材料 で構成されるため、 表面の症状... 続きを読む 半導体 検査・評価技術 半導体検査 半導体評価技術 半導体信頼性評価 半導体故障解析 半導体品質管理
