2026.02.16 7-3. 最終電気検査（Final Test / FT） ウェハ検査を通過しても、それだけで「良品」とは言えない。 半導体は、 • ダイシング • 実装 • パッケージング • はんだ接合 と工程を重ねるほ... 続きを読む 半導体 検査・評価技術 半導体検査 最終テスト（FT） ATE（自動試験装置）
2026.02.13 7-2. ウェハレベル電気特性検査（Wafer Electrical Test / E-Test） 半導体は、作れたかどうかではなく、 狙った特性になっているかで価値が決まる。 その最初の関門が、ウェハレベル電気特性検査（E-Test） である。 ここで... 続きを読む 半導体 シリコンウェハ 検査・評価技術 半導体検査 ATE（自動試験装置）
